Ángulo de incidencia variable de 30° a 85°.
Admite muestras de más de 12 mm x 12 mm y hasta 12 mm de grosor.
Mantiene la alineación para todos los ángulos de incidencia.
Referencia de reflectancia opcional para mediciones de reflectancia absoluta en el infrarrojo medio.
Adaptable para estudios de ángulo variable, ángulo fijo y reflexión especular absoluta.
Etapas de muestreo opcionales para reflectancia especular absoluta y muestreo horizontal.
Modelos disponibles para una amplia gama de espectrómetros FT-IR y espectrómetros UV-Vis.
Unidad de Base Óptica con Platina de Muestra de Reflectancia Especular de Ángulo Variable.
Hardware de Acoplamiento para el Espectrómetro UV-Vis o FT-IR Especificado.
