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Seagull™ Accesorio de Reflexión de Ángulo Variable

El Seagull™ es un potente accesorio para examinar polvos, revestimientos ópticos, sustratos opacos, películas sobre sustratos opacos y sólidos ligeramente curvados mediante espectroscopia de reflectancia FT-IR de ángulo variable. Este accesorio se adapta fácilmente para mediciones de reflectancia especular, ATR o difusa. El Seagull™ opera en un amplio rango de ángulos de incidencia sin desalinear el sistema, desenfocar la radiación incidente o cambiar la polarización. Esto lo convierte en una herramienta extremadamente versátil y flexible para la espectroscopia FT-IR. El Seagull™ también permite cambios en el ángulo de incidencia sin interrumpir la purga del espectrómetro. El Seagull™ es excelente para examinar sólidos por reflectancia especular o ATR, para estudiar líquidos y películas sobre líquidos por reflectancia especular, para perfiles de profundidad y para determinar constantes ópticas.

Características
Incluye
Información Técnica
Aplicaciones de Accesorio de Reflexión de Ángulo Variable Seagull™

Accesorio de reflexión de ángulo variable polivalente.

Capacidades de reflectancia ATR, especular (externa) y difusa.

Ángulo de incidencia continuamente variable, de 5° a 85°.

Enfoca el haz FT-IR incidente sobre la muestra para todos los ángulos de incidencia.

Centra siempre el haz incidente en la misma zona de la muestra.

Lectura angular directa para todas las mediciones; no es necesaria la corrección del ángulo ATR.

Mantiene la polarización para todos los ángulos de incidencia.

No es necesario realinear el accesorio ni reposicionar la muestra al variar el ángulo de incidencia.

Alto rendimiento óptico.

PermaPurge™ permite cambios en el ángulo sin interrumpir la purga del sistema FT-IR.

Las opciones disponibles incluyen:

Kit ATR con cristales semiesféricos de ZnSe o Ge.

Ming-Sung™ ATR Rotator para estudios de espectroscopia de polímeros orientados disponible por separado.

Cómodas celdas de flujo ATR, artesas, polvo y etapas calentadas a temperatura variable disponibles.

Referencia de reflectancia para mediciones de reflectancia absoluta en el infrarrojo medio.

Polarizador de rejilla.

Soporte de Muestras para Reflectancia Especular.

Vaso de Muestra para Reflectancia Difusa.

Placa de Presión de la Muestra.

Hardware de Acoplamiento para el Espectrómetro FT-IR especificado.

Espejo de Alineación.

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